CS19010系列局部放电测试仪是一款适用于高压隔离集成电路（如光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片）、半导体高压开关（如IGBT、MOSFET），及高压绝缘组件（如隔离基板）、低容值高压电容器等器件局部放电和耐压测试的综合测量设备，可实现0.1kV~10kV范围内耐压测试和局部放电测试。
CS19010系列局部放电测试仪采用试品串联耦合测量模式，测试方法符合通用局放测量标准GB/T 7354-2018 （IEC60270：2000），同时也符合特定器件的局放测量标准，如光隔离器安全标准（IEC60747-5-5）、数字隔离器安全标准（IEC60747-17）、低电压设备安全标准（IEC60664-1）、半导体开关组件标准（IEC 60747-15）等；具有自定义高压输出波形、多种测量条件合格判断功能，用户可根据需求柔性组合，实现0.01uA~1mA泄漏电流测量和1pC~200pC局部放电测量，可满足大多数集成隔离器件和高绝缘材料的产品品质测试需求。
CS19010系列局部放电测试仪的主要应用领域：（1）工业生产，依据相关标准在高压器件（组件）生产过程中进行局部放电常规测试或现场诊断测试；（2）科学研究，对高压绝缘材料进行局部放电特性研究或绝缘劣化过程研究。
局部放电测试仪技术参数
型号 | CS19010A(主机)/ CS19010B（局部放电测量模块） |
交流输出电压 | 输出电压 | 范围 | 0.100kV~10.00kV |
精度 | ±（1%设定值+5个字） |
分辨率 | 1V |
电压上升时间 | 0.3s~999.9s，0=电压上升时间关 |
测试时间 | 0.3s~999.9s，0=连续测试 |
电压下降时间 | 0.3s~999.9s，0=电压下降时间关 |
间隔时间 | 0.0s~999.9s，0=间隔时间关 |
输出频率 | 50Hz/60Hz±0.1%，正弦波 |
输出波形失真度 | ≤1%（最大电压下，空载或纯阻性负载） |
高压电压表 | 范围 | 0.100kV~10.00kV |
精度 | ±（1%示数+ 5个字） |
分辨率 | 1V |
显示数值 | 均方根值 |
泄漏电流表[1] | 测量范围 | 0.01uA~300uA |
分辨率 | 10uA档：0.01uA，300uA：0.1uA |
测量精度 | 10uA档：±（2%示数+0.5uA） 300uA档：±（1%示数+2uA） |
局部放电表[2] | 范围 | 10pC档：1.0~10pC 分辨率：0.1pC； 50pC档：2.0pC~50pC 分辨率：0.1pC； 200pC档：10pC~200pC 分辨率：0.1pC |
精度 | 10pC档：±（1%示数+0.5pC） 50pC档：±（1%示数+1pC） 200pC档：±（1%示数+1pC） |
PD检测延迟时间 | 0.0s~999.9s，0=延迟时间关 |
计时器 | 范围 | 0~999.9s |
分辨率 | 0.1s |
精度 | ±（1%+50ms） |
通用规格 | 规格对应环境范围 | 18℃~28℃，≤70%RH |
工作环境范围 | 0℃~40℃，15% ~ 95% RH @ ≤40 ℃ 无凝露 |
储存环境范围 | -10℃~50℃，≤80%RH |
电源 | 220Vac，50/60Hz |
电源功耗 | CS19010A：≤400W CS19010B：≤50W |
质量 | CS19010A ：22.5kg |
局部放电校准器技术参数
型号 | CS19010C |
输出电压 | 0.2V~20V |
极性 | 负极性 |
校准分度电容 | 5pF |
量程 | 1pC~100pC |
精度 | ±（3%+0.5pC） |
上升时间 | <50ns |
脉冲周期重复率 | 1~100 Hz，分辨率 1Hz |
每周期脉冲个数 | 1~100 |
触发模式 | 通信触发 |
规格对应环境范围 | 18℃~28℃，≤70%RH |
工作环境范围 | 0℃~40℃，15% ~ 95% RH @ ≤40 ℃ 无凝露 |
储存环境范围 | -10℃~50℃，≤80%RH |
电源 | 3节3.7V锂电池（规格：18650） |
质量 | 0.85 kg |
尺寸（W*H*D） | 140 mm*62 mm*211 mm |