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XC3020电子器件噪声分析仪
噪声测试:测量半导体分立器件和集成电路的低频至超低频噪声参数,测试范围和精度满足国家标准、国家军用标准以及行业标准的相应产品技术规范。
可靠性分析:根据噪声频谱分析和时间波形分析,检测半导体分立器件和集成电路的潜在缺陷,对其可靠性进行加严筛选和故障诊断,对寿命及环境应力适应性进行预估。
分立器件:电压基准和调压二极管,硅功率晶体管,GaAs MESFET&HEMT&HBT JFETMOSFET,光电偶合器,VDMOS功率管,IGBT,特种器件等。

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