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主要技术指标

  • 频率测量范围:0.1Hz~1GHz;
  • 周期测量:10ns~10s;
  • 计数分辨率:7位/s;
  • 晶振日波率:5×10-6/日;
  • 大规模集成电路;
  • 微处理器控制;
  • 等精度测量

产品数据手册待更新……