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产品编码:11930 产品名称:分辨率测试卡 产品型号:分辨率测试卡(高) 参考价格:价格面议 产地: 简要参数:
分辨率测试卡,材质为金镍合金,厚度17.5μm、尺寸30mmx8mm,17组,量程5.0~20LP/mm,用于测试X射线机的高分辨率。
分辨率测试卡主要用于测试X射线机的高分辨率;
量程:5.0~20.0LP/mm,组数17组;
分辨率测试卡为金镍合金,厚度为17.5um,尺寸30×8mm.
产品数据手册待更新……